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Optical interferometric system for measurement of a full-field thickness of a plate-like object in real time

机译:用于实时测量板状物体全视场厚度的光学干涉仪系统

摘要

An optical interferometric system for measurement of a full-field thickness of a plate-like object in real time includes two light sources, two screens, two image capturing devices, and an image processing module. The light sources radiate incident lights toward a reference point on the plate-like object in respective directions to produce respective interference fringe patterns (IFPs). The image capturing devices capture light intensity distribution images respectively of the IFPS imaged respectively on the screens. The image processing module calculates a fringe order at the reference point according to the light intensity distribution images, and obtains a full-field thickness distribution of the plate-like object according to the fringe order.
机译:一种用于实时测量板状物体的全视场厚度的光学干涉系统,包括两个光源,两个屏幕,两个图像捕获设备和一个图像处理模块。光源沿各自的方向朝着板状物体上的参考点辐射入射光,以产生各自的干涉条纹图案(IFP)。图像捕获装置捕获分别在屏幕上成像的IFPS的光强度分布图像。图像处理模块根据光强分布图像计算出参考点的条纹阶数,并根据条纹阶数获得板状物体的全场厚度分布。

著录项

  • 公开/公告号US9952034B2

    专利类型

  • 公开/公告日2018-04-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY;

    申请/专利号US201715609862

  • 发明设计人 WEI-CHUNG WANG;PO-CHI SUNG;

    申请日2017-05-31

  • 分类号G01B11/06;G01B9/02;G01J9/04;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:58:02

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