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机译:辉光放电光发射光谱中的实时深度测量:通过差分干涉分析
HORIBA FRANCE SAS, Avenue de la Vauve-Passage Jobin Yvon, Palaiseau, France;
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机译:通过使用辉光放电光发射光谱法(GDOES)螺旋涂层内的氦深度测量
机译:射频辉光放电光发射光谱法(rf-GD-OES)对氧化膜的深度分布分析:深度分辨固态物种形成的可能性
机译:阳极氧化铝薄膜的辉光放电光发射光谱(GDOES)深度轮廓分析-深度分辨率研究
机译:发光放电光发射光谱法(GD-OES):深度分析的替代技术,用于从纳米到千分尺刻度的表面性质
机译:射频辉光放电光发射光谱法在固体物质的体积和深度分辨分析中的应用。
机译:氩气中射频辉光放电的绝对时空分辨光发射测量
机译:在辉光放电光发射光谱法中从空间分辨测量评估的金属涂层的深度分析