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Fast absolute-reflectance method for the determination of tear film lipid layer thickness

机译:快速绝对反射法测定泪膜脂质层厚度

摘要

A method for determining reflectivity of a tear film lipid layer of a patient and recommending a course of treatment based on the same. The method includes the steps of: measuring a tear film aqueous plus lipid layer relative reflectance spectrum using a wavelength-dependent optical interferometer; converting the measured tear film aqueous plus lipid layer relative reflectance spectrum to a calculated absolute reflectance spectrum; comparing the calculated absolute reflectance spectrum to a theoretical absolute lipid reflectance spectrum to determine a tear film lipid layer thickness; and determining a reflectivity value for the tear film lipid layer thickness at a first wavelength of light corresponding to ultraviolet, violet, or blue light.
机译:一种确定患者的泪膜脂质层的反射率并基于该反射率推荐治疗方案的方法。该方法包括以下步骤:使用依赖于波长的光学干涉仪测量泪膜水和脂质层的相对反射光谱;以及将所测量的泪膜水加脂质层的相对反射光谱转换为计算的绝对反射光谱;将计算的绝对反射光谱与理论绝对脂质反射光谱进行比较,以确定泪膜脂质层厚度;确定在与紫外线,紫光或蓝光相对应的第一光波长下泪膜脂质层厚度的反射率值。

著录项

  • 公开/公告号US10376140B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-08-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JOHNSON &JOHNSON SURGICAL VISION INC.;

    申请/专利号US201715625815

  • 发明设计人 STANLEY W. HUTH;DENISE TRAN;

    申请日2017-06-16

  • 分类号A61B3/10;A61B3;G01J3/45;G01B11/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:16:52

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