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Fast absolute-reflectance method for the determination of tear film lipid layer thickness

机译:快速绝对反射法测定泪膜脂质层厚度

摘要

A method of determining tear film lipid layer thickness. The method includes the steps of measuring a tear film aqueous plus lipid layer relative reflectance spectrum using a wavelength-dependent optical interferometer; converting the measured tear film aqueous plus lipid layer relative reflectance spectrum to a calculated absolute reflectance spectrum; and comparing the calculated absolute reflectance spectrum to a theoretical absolute lipid reflectance spectrum to determine a tear film lipid layer thickness.
机译:确定泪膜脂质层厚度的方法。该方法包括以下步骤:使用依赖于波长的光学干涉仪测量泪膜水加脂质层的相对反射光谱;将所测量的泪膜水加脂质层的相对反射光谱转换为计算的绝对反射光谱;将计算的绝对反射光谱与理论绝对脂质反射光谱进行比较以确定泪膜脂质层厚度。

著录项

  • 公开/公告号US10368738B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JOHNSON &JOHNSON SURGICAL VISION INC.;

    申请/专利号US201414298176

  • 发明设计人 STAN HUTH;DENISE TRAN;

    申请日2014-06-06

  • 分类号A61B3/10;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:14:40

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