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LOW SUBSTRATE LEAKAGE ZENER DIODE WITH MODULATED BURIED JUNCTION

机译:具有可调埋入接头的低基体泄漏Zener二极管

摘要

In some embodiments, an apparatus comprises a semiconductor layer doped with a first-type dopant, a first region doped with the first-type dopant, a second region doped with the first-type dopant, and a third region doped with a second-type dopant, where the second-type dopant is opposite the first-type dopant. The first, second, and third regions are non-overlapping and are formed in the semiconductor layer. The third region is positioned between the first region and the second region. The apparatus also comprises a plurality of Zener implant regions buried in the semiconductor layer and the third region, where each of the plurality of Zener implant regions is configured to generate a different pinch-off region.
机译:在一些实施例中,一种装置包括掺杂有第一类型掺杂剂的半导体层,掺杂有第一类型掺杂剂的第一区域,掺杂有第一类型掺杂剂的第二区域和掺杂有第二类型掺杂剂的第三区域。掺杂剂,其中第二类型掺杂剂与第一类型掺杂剂相对。第一,第二和第三区域是不重叠的,并且形成在半导体层中。第三区域位于第一区域和第二区域之间。该装置还包括埋在半导体层和第三区域中的多个齐纳注入区,其中,多个齐纳注入区中的每一个被配置为产生不同的夹断区。

著录项

  • 公开/公告号US2019131389A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-05-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED;

    申请/专利号US201715799783

  • 发明设计人 JUN CAI;BINGHUA HU;

    申请日2017-10-31

  • 分类号H01L29/06;H01L29/866;H01L21/761;H01L29/868;H01L29/66;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:05:48

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