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NOVEL LIGHT-ASSISTED QUARTZ CRYSTAL MICROBALANCE AND MEASUREMENT METHOD THEREOF

机译:新型光辅助石英晶体微平衡及其测量方法

摘要

A novel light-assisted quartz crystal microbalance (2) and a measurement method thereof. The microbalance comprises a QCM/QCM-D chip (20), an oscillation circuit, a frequency counter (22), a computer (4), a reaction chamber (14), and a light source (6). Light emitted from the light source (6) is able to irradiate a surface of the QCM/QCM-D chip (20). By additionally configuring a light source with the ability to irradiate a chip surface, when irradiated the surface of the QCM/QCM-D chip (20) changes properties thereof, and irradiation of the surface of the QCM/QCM-D chip (20) greatly increases the resonance frequency. Correspondingly, irradiation of the surface of the chip (20) also changes mechanical properties and piezoelectric characteristics of quartz crystal, thereby effectively improving measurement sensitivity of a quartz crystal microbalance apparatus system.
机译:一种新型的光辅助石英晶体微量天平(2)及其测量方法。微量天平包括QCM / QCM-D芯片(20),振荡电路,频率计数器(22),计算机(4),反应室(14)和光源(6)。从光源(6)发出的光能够照射QCM / QCM-D芯片(20)的表面。通过额外地配置具有照射芯片表面的能力的光源,当照射QCM / QCM-D芯片(20)的表面时,其性质发生改变,并且照射QCM / QCM-D芯片(20)的表面。大大增加了共振频率。相应地,芯片(20)表面的照射也改变了石英晶体的机械性能和压电特性,从而有效地提高了石英晶体微量天平装置系统的测量灵敏度。

著录项

  • 公开/公告号WO2019109368A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-06-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JIANGSU UNIVERSITY;

    申请/专利号WO2017CN115776

  • 发明设计人 WANG JIE;LIU LEI;DONG MINGDONG;

    申请日2017-12-13

  • 分类号G01N5;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 11:54:29

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