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Method and device for measuring impedance of a resonator by means of a tunable oscillator

机译:通过可调振荡器测量谐振器阻抗的方法和装置

摘要

The invention relates to a method and system and microchip for determining impedance of a variable impedance component. The method comprises tuning a tunable oscillator over a predefined tuning range, the tunable oscillator having the variable impedance component coupled as a load thereof. The frequency response of the tunable oscillator is measured as a function of said tuning. Finally, the measured frequency response is analyzed for determining the impedance of the variable impedance component. The invention makes possible to manufacture smaller and simpler monolithic sensor microchips.
机译:本发明涉及一种用于确定可变阻抗组件的阻抗的方法,系统和微芯片。该方法包括在预定的调谐范围上调谐可调谐振荡器,该可调谐振荡器具有耦合为其负载的可变阻抗分量。根据所述调谐来测量可调谐振荡器的频率响应。最后,分析测得的频率响应以确定可变阻抗分量的阻抗。本发明使得可以制造更小和更简单的单片传感器微芯片。

著录项

  • 公开/公告号EP2141495B1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT OY;

    申请/专利号EP20090164118

  • 发明设计人 RANTALA ARTO;

    申请日2009-06-30

  • 分类号G01N29/02;G01N29/028;G01N29/24;G01N27/02;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 11:42:50

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