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X-ray fluorescence analysis method, X-ray fluorescence analysis program, and fluorescence X-ray analyzer

机译:X射线荧光分析方法,X射线荧光分析程序以及荧光X射线分析仪

摘要

An X-ray fluorescence analysis method according to an FP method uses a predefined theoretical intensity formula in a standard sample theoretical intensity calculation step for obtaining a sensitivity constant and in an unknown sample theoretical intensity calculation step during iterative calculation. In the formula, only in an absorption term relating to absorption of X-rays, a mass fraction of each component is normalized so that a sum of the mass fractions of all components becomes 1.
机译:根据FP方法的X射线荧光分析方法在用于获得灵敏度常数的标准样品理论强度计算步骤中以及在迭代计算期间的未知样品理论强度计算步骤中使用预定的理论强度公式。在该式中,仅在与X射线的吸收有关的吸收项中,将各成分的质量分数归一化,以使所有成分的质量分数之和为1。

著录项

  • 公开/公告号JP6614740B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社リガク;

    申请/专利号JP20190506226

  • 发明设计人 片岡 由行;川久 航介;

    申请日2018-03-14

  • 分类号G01N23/223;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 11:32:05

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