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X-ray detector substrate based on photodiodes with a radial pin junction structure

机译:基于具有径向销结结构的光电二极管的X射线检测器基板

摘要

The present application discloses a photodiode structure including multiple light trapping elements. Each light trapping element includes an N-type silicon layer with a recessed structure therein, an intrinsic silicon layer disposed overlying the N-type silicon layer including a side region and a bottom region inside the recessed structure, and a P-type silicon layer disposed as an inner layer overlying the intrinsic silicon layer inside the recessed structure. A radial PIN junction is formed around a nominal axis of the recessed structure.
机译:本申请公开了一种包括多个光捕获元件的光电二极管结构。每个光捕获元件包括其中具有凹陷结构的N型硅层,布置在包括在凹陷结构内部的侧部区域和底部区域的N型硅层之上的本征硅层,以及设置的P型硅层。作为覆盖在凹陷结构内部的本征硅层上的内层。围绕凹入结构的标称轴线形成径向PIN结。

著录项

  • 公开/公告号US10784305B2

    专利类型

  • 公开/公告日2020-09-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BOE TECHNOLOGY GROUP CO. LTD.;

    申请/专利号US201715768229

  • 发明设计人 RUI HUANG;JIANMING SUN;

    申请日2017-09-28

  • 分类号H01L27/146;G01T1/20;H01L29/66;H01L29/786;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 11:30:15

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