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Method of plasma etching of silicon-containing organic film using sulfur-based chemistry

机译:使用硫基化学等离子刻蚀含硅有机膜的方法

摘要

A method of etching is described. The method providing a substrate having a first material composed of silicon-containing organic material and a second material that is different from the first material, forming a chemical mixture by plasma-excitation of a process gas containing SF6 and an optional inert gas, controlling a processing pressure at or above 100 mtorr, and exposing the first material on the substrate to the chemical mixture to selectively etch the first material relative to the second material.
机译:描述了一种蚀刻方法。该方法提供一种基板,该基板具有由含硅有机材料构成的第一材料和与该第一材料不同的第二材料,并通过等离子体激发包含SF 6 的工艺气体形成化学混合物。以及可选的惰性气体,将处理压力控制在100毫托或更高,并将基板上的第一材料暴露于化学混合物中以相对于第二材料选择性地蚀刻第一材料。

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