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APPARATUS AND METHODS FOR DETERMINING AN EXPECTED DATA AGE OF MEMORY CELLS

机译:用于确定记忆细胞的预期数据年龄的装置和方法

摘要

Methods of operating a memory including applying an intermediate read voltage to a selected access line for a read operation, determining a value indicative of a number of memory cells of a plurality of memory cells connected to the selected access line that are activated in response to applying the intermediate read voltage to the selected access line, and determining an expected data age of the plurality of memory cells in response to the value indicative of the number of memory cells of the plurality of memory cells that are activated in response to applying the intermediate read voltage to the selected access line.
机译:操作存储器的方法包括:将中间读取电压施加到选定的访问线以进行读取操作;确定指示响应于施加而激活的,指示连接到选定的访问线的多个存储单元中的存储单元的数量的值向选择的访问线提供中间读取电压,并响应于指示响应于施加中间读取而激活的多个存储单元中的存储单元的数量的值,确定多个存储单元的预期数据寿命所选接入线的电压。

著录项

  • 公开/公告号WO2020081169A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号WO2019US50515

  • 发明设计人 DE SANTIS LUCA;

    申请日2019-09-11

  • 分类号G11C16/26;G11C16/30;G11C16/08;G11C16/04;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 11:11:43

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