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SONDE CAPACITIVE DIFFÉRENTIELLE POUR MESURER LA RÉSISTANCE DE CONTACT

摘要

A differential capacitive probe for measuring contact resistance, the differential capacitive probe including a frame, an end effector extending from the frame, a first capacitive pad coupled to the frame so as to at least partially circumscribe the end effector, and a second capacitive pad coupled to the frame so as to be radially spaced, relative to the end effector, from the first capacitive pad and to at least partially circumscribe the end effector, wherein a contact surface area of the first capacitive pad is substantially the same as another contact surface of the second capacitive pad.

著录项

  • 公开/公告号EP3660521A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020.06.03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号EP19212015.2

  • 发明设计人

    申请日2019.11.28

  • 分类号

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 10:53:05

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