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一种非晶碲镉汞单片集成式焦平面探测器的制造方法

摘要

本发明提供一种非晶碲镉汞单片集成式焦平面探测器的制造方法,其工艺步骤为:A.衬底清洗;B.沉积金属下电极;C.光刻;D.干法刻蚀(下电极成型);E.去胶清洗;F.磁控溅射(非晶碲镉汞光敏材料生长);G.光刻;H.干法刻蚀(光敏面成型);I.去胶清洗;J.光刻;K.干法刻蚀(表面清洁);L.沉积金属上电极;M.剥离清洗(上电极金属成型)。通过上述制造方法,降低了制造成本,提高了焦平面探测器的可靠性,并使焦平面探测器具有较高的外量子效率,实现了非晶碲镉汞单片集成式焦平面探测器的制造。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-10-02

    专利实施许可合同备案的生效 IPC(主分类):H01L 31/18 合同备案号:2013530000086 让与人:昆明物理研究所 受让人:昆明北方红外技术股份有限公司 发明名称:一种非晶碲镉汞单片集成式焦平面探测器的制造方法 申请公布日:20110706 授权公告日:20120725 许可种类:独占许可 备案日期:20130806 申请日:20091230

    专利实施许可合同备案的生效、变更及注销

  • 2012-07-25

    授权

    授权

  • 2011-08-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 31/18 申请日:20091230

    实质审查的生效

  • 2011-07-06

    公开

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