基于双电阻校准和麦夸尔特法的EMI内阻抗测量方法

摘要

本发明公开了一种基于双电阻校准和麦夸尔特法的EMI内阻抗测量方法。其中，一个电流探头作为注入探头，另一个探头作为检测探头分别测量短路、标准电阻1、标准电阻2、被测阻抗、标准电阻1与被测阻抗串联、标准电阻2与被测阻抗串联时的电路状态量，从而获取被测产品的EMI内抗，并采用麦夸尔特法对测得的EMI内阻抗幅频特性进行处理，最终得到被测产品的EMI内阻抗(复阻抗)，包括幅值与相位。本发明简单、高效，测量精度较高且解决了插入损耗法、单电流探头、双电流探头法的相位缺损问题。通过采用本发明方法能够精确的获取被测产品的噪声源内阻抗，从而为EMI滤波器的设计提供理论依据。