首页> 中国专利> 一种新型结构的同位素测厚仪探头

一种新型结构的同位素测厚仪探头

摘要

本发明公开了一种新型结构的同位素测厚仪探头,包括外套1、电离室2、前置放大板4、信号接头6,在外套1与电离室2之间有一内套3,内套3与外套1的内腔之间有间隙,内套3与外套1均紧固在固定板7上;在外套1侧壁上部的通孔上安装有一气嘴5。当压缩空气从外套1上的气嘴5进入到内套3与外套1的内腔之间的间隙后,由于压缩空气膨胀后吸热,保证了内套3周围的温度相对稳定,从而使得内套3内部的电离室2和前置放大板4等电子原器件在工作时的环境温度较低,不易损坏或出现失常,从而保证了测量精度,也延长了探头的使用寿命。

著录项

  • 公开/公告号CN101797589B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-06-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 马鞍山市锐泰科技有限公司;

    申请/专利号CN201010115790.X

  • 发明设计人 王实;王诚;刘健;

    申请日2010-03-02

  • 分类号

  • 代理机构马鞍山市金桥专利代理有限公司;

  • 代理人唐宗才

  • 地址 243000 安徽省马鞍山市红旗南路88号科创中心107室

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-20

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):B21B 38/04 授权公告日:20120627 终止日期:20170302 申请日:20100302

    专利权的终止

  • 2012-06-27

    授权

    授权

  • 2012-06-27

    授权

    授权

  • 2010-09-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):B21B 38/04 申请日:20100302

    实质审查的生效

  • 2010-09-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):B21B 38/04 申请日:20100302

    实质审查的生效

  • 2010-08-11

    公开

    公开

  • 2010-08-11

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号