首页> 中国专利> 具有腔室处理与处理层等离子体放电以释放晶片的等离子体浸没离子注入工艺

具有腔室处理与处理层等离子体放电以释放晶片的等离子体浸没离子注入工艺

摘要

在等离子体浸没离子注入工艺中,在不会因为增加处理层的厚度而损失晶片夹钳静电力的情况下,增加注入前腔室处理层的厚度,以允许在不用更换处理层的情况下进行一连串晶片的注入。可通过先以等离子体放电来除掉厚处理层的残留静电荷来实现上述动作。通过在每个晶片处理完之后,部分地补充所述处理层,并且接着可在处理下一个晶片之前进行所述补充处理层的简短等离子体放电,以进一步提高使用同一个处理层所能处理的晶片数量。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/265 授权公告日:20120718 终止日期:20160202 申请日:20090202

    专利权的终止

  • 2012-07-18

    授权

    授权

  • 2012-01-25

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L 21/265 变更前: 变更后: 申请日:20090202

    著录事项变更

  • 2011-04-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/265 申请日:20090202

    实质审查的生效

  • 2011-01-12

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号