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平均长度自适应优化方法和装置

摘要

平均长度自适应优化方法和装置。一种对进行相位恢复时采用的平均长度进行自适应优化的方法,包括:残余相差计算步骤,用于接收经相位恢复后的数字符号的当前相位和经数据恢复后的数字符号的数据调制相位,并计算所述数字符号的残余相差,所述残余相差为所述符号的当前相位与数据调制相位的差;残余相差自相关值计算步骤,用于计算所述残余相差的移位为m的自相关值,其中,-10≤m≤10,且为整数;正负判断步骤,用于判断所述残余相差的自相关值是正值还是负值;优化步骤,当判定所述残余相差的自相关值为正值时,减小进行相位恢复时采用的平均长度,当判定所述残余相差的自相关值为负值时,增大进行相位恢复时采用的平均长度。

著录项

  • 公开/公告号CN101621335B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号CN200810131855.2

  • 发明设计人 李磊;陶振宁;中岛久雄;

    申请日2008-07-01

  • 分类号

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄纶伟

  • 地址 日本神奈川县川崎市

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-30

    授权

    授权

  • 2010-03-03

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2010-01-06

    公开

    公开

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