首页> 中国专利> 双能X射线探测器及双能X射线探测器阵列装置

双能X射线探测器及双能X射线探测器阵列装置

摘要

本发明提供了一种双能X射线探测器,其在X射线的入射方向上依序包括第一光电探测器件、闪烁体和第二光电探测器件,第一光电探测器件和第二光电探测器件分别设置在闪烁体的前后两个端面上,所述X射线穿过第一光电探测器件之后进入闪烁体,所述闪烁体将入射到其中的X射线转换成可见光,第一光电探测器件和第二光电探测器件用于接收闪烁体发出的可见光并将其转换成电信号。利用这种双能X射线探测器能够测量穿透物体的X射线能谱中低能部分和高能部分的相对差别,进而提供材料识别的依据。

著录项

  • 公开/公告号CN101937095B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 同方威视技术股份有限公司;

    申请/专利号CN200910088624.2

  • 申请日2009-06-30

  • 分类号G01T1/20(20060101);G01T1/202(20060101);G01J1/42(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人王岳;李家麟

  • 地址 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-09

    授权

    授权

  • 2011-03-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/20 申请日:20090630

    实质审查的生效

  • 2011-01-05

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号