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用于检测具有变化的横截面几何形状的轮廓面的柔性阵列探针

摘要

披露了一种柔性阵列探针,其适合于在非破坏性测试和检查具有变化的横截面形状的试样中使用。阵列元件,例如,但不限于,涡流传感器、压电传感元件和磁通泄漏传感器,安装在薄的调整叶片上,并沿着期望的旋转轴与成对的枢轴机构连接在一起。枢轴机构允许精确的在一维维度内旋转,以使柔性阵列探针调整它的元件垂直于被测结构的表面。也披露了调整和连接机构。

著录项

  • 公开/公告号CN101509758B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-04-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 奥林巴斯NDT公司;

    申请/专利号CN200810127736.X

  • 发明设计人 B·勒帕热;M·罗伊;S·奥尔西;

    申请日2008-05-21

  • 分类号G01B7/28(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人温大鹏

  • 地址 美国麻萨诸塞州

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-04-04

    授权

    授权

  • 2009-10-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-08-19

    公开

    公开

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