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可达成正面电导通的半导体芯片封装结构及其制作方法

摘要

本发明提供一种可达成正面电导通的半导体芯片封装结构及其制作方法。该封装结构包括:封装单元、半导体芯片、基板单元、第一绝缘单元、第一导电单元、第二导电单元、及第二绝缘单元。该封装单元具有用于容置该半导体芯片的中央容置槽及用来容置该基板单元的外围容置槽。该半导体芯片具有多个导电焊盘。该第一绝缘单元具有形成于多个导电焊盘之间的第一绝缘层。该第一导电单元具有多个第一导电层。该第二导电单元具有多个成形于多个第一导电层上的第二导电层。该第二绝缘单元成形于多个第一导电层彼此之间及多个第二导电层彼此之间。本发明可省略打线工艺并且可免去因打线而出现电接触不良的情况。

著录项

  • 公开/公告号CN101567344B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-03-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 宏齐科技股份有限公司;

    申请/专利号CN200810091203.0

  • 发明设计人 汪秉龙;萧松益;张云豪;陈政吉;

    申请日2008-04-21

  • 分类号

  • 代理机构隆天国际知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈晨

  • 地址 中国台湾新竹市

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-03-21

    授权

    授权

  • 2009-12-23

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-10-28

    公开

    公开

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