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一种电阻法粒度分析仪固体颗粒粒径校准系数K

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摘要

本发明涉及计量测试技术领域，尤其是涉及一种电阻法粒度分析仪固体颗粒粒径校准系数K

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2017-02-08

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 15/02 授权公告日:20120208 终止日期:20151217 申请日:20091217

专利权的终止
2012-02-08

授权

授权
2010-08-25

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20091217

实质审查的生效
2010-06-30

公开

公开

1. 一种电阻法粒度分析仪固体颗粒粒径校准系数K [P] . 中国专利： CN101762443B . 2012.02.08
2. 一种用于电阻法粒度分析中固体颗粒计数有效性的测量方法 [P] . 中国专利： CN101762442B . 2011.11.16
3. Calibration of optical particle-size analyzer [P] . 美国专利： US4135821A . 1979-01-23

机译：光学粒度分析仪的校准
4. Device e.g. scattered light measuring device, calibrating method, involves enabling correlation to take place between measured value and substance that is in fixed relation with quotient of absorption and scattering co-efficients of sample [P] . 德国专利： DE102006050202A1 . 2008-04-17

机译：设备例如散射光测量装置，一种校准方法，涉及使测量值与物质之间发生相关，该物质与样品的吸收系数和散射系数成正比
5. PERFORMANCE EVALUATING USING CALIBRATION METHOD AND SYSTEM FOR INE DUST CONCENTRATION MEASURING APPARATUS USING CALIBRATION FACTOR AND A MEDIUM RECORDING A PROGRAM FOR PERFORMING THE METHOD [P] . KR102223173B1 . 2021-03-25

机译：使用校准系数的校准方法和系统评估使用校准系数和介质来记录用于执行方法的程序的校准方法和系统