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一种利用光谱强度变化检测介质折射率变化的装置

摘要

本发明公开了一种利用光谱强度变化检测介质折射率变化的装置,包括:耦合棱镜;在耦合棱镜表面蒸镀的金属层;在金属层表面涂覆的传感介质层;形变布拉格反射镜;CCD传感器;以及在CCD传感器表面涂覆的荧光物质层。宽谱传感光束通过耦合棱镜后,特定波长与棱镜表面金属层发生表面等离子体模式共振,金属层表面介质折射率会对表面等离子体共振波长调制,不同介质折射率对应不同的波长表面等离子体耦合,通过棱镜的传感光束反射光谱由形变布拉格反射镜分光反射至CCD探测器上,利用CCD探测器不同位置对应波长光谱强度变化探测特定波长的表面等离子体共振光吸收,达到探测棱镜上金属表面介质折射率变化的目的。

著录项

  • 公开/公告号CN101825568B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN201010139176.7

  • 发明设计人 刘宏伟;阚强;王春霞;陈弘达;

    申请日2010-03-31

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-22

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/41 授权公告日:20120104 终止日期:20180331 申请日:20100331

    专利权的终止

  • 2012-01-04

    授权

    授权

  • 2012-01-04

    授权

    授权

  • 2010-10-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/41 申请日:20100331

    实质审查的生效

  • 2010-10-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/41 申请日:20100331

    实质审查的生效

  • 2010-09-08

    公开

    公开

  • 2010-09-08

    公开

    公开

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