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在光学计量中用近似和精细衍射模型确定结构的轮廓参数

摘要

本发明涉及在光学计量中用近似和精细衍射模型确定结构的轮廓参数,提供了一种通过使用光学计量模型确定结构的一个或多个轮廓参数的方法,该光学计量模型包括轮廓模型、近似衍射模型和精细衍射模型。根据所述结构的近似衍射模型产生模拟近似衍射信号。通过从每个模拟精细衍射信号减去所述模拟近似衍射信号获得一组差值衍射信号,并将所述组差值衍射信号与相对应的轮廓参数配对并且用于产生差值衍射信号的库。由所述模拟近似衍射信号所调节的测量衍射信号与所述库比对,以确定所述结构的至少一个轮廓参数。

著录项

  • 公开/公告号CN101413791B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京毅力科创株式会社;

    申请/专利号CN200810213950.7

  • 发明设计人 刘维;李世芳;杨维东;

    申请日2008-08-28

  • 分类号

  • 代理机构北京东方亿思知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人柳春雷

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-17

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/24 授权公告日:20120104 终止日期:20160828 申请日:20080828

    专利权的终止

  • 2012-01-04

    授权

    授权

  • 2012-01-04

    授权

    授权

  • 2009-06-17

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-06-17

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-04-22

    公开

    公开

  • 2009-04-22

    公开

    公开

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