首页> 中国专利> 光频域反射测定方式的物理量测量装置、及使用了其的温度和应变的同时测量方法

光频域反射测定方式的物理量测量装置、及使用了其的温度和应变的同时测量方法

摘要

本发明的光频域反射测定方式的物理量测量装置具备:射出测定光的可调谐激光器;一端与该可调谐激光器连接的第一保偏光纤;与该第一保偏光纤的另一端连接的保偏耦合器;一端与该保偏耦合器连接,另一端作为参照用反射端的第二保偏光纤;一端与所述保偏耦合器连接的第三保偏光纤;形成于该第三保偏光纤的纤芯且由光纤光栅构成的传感器;一端与所述保偏耦合器连接的第四保偏光纤;借助该第四保偏光纤与所述保偏耦合器连接,对来自所述传感器的布拉格反射光和来自所述参照用反射端的参照光进行检测的光电二极管;根据由该光电二极管检测出的所述布拉格反射光和所述参照光的合波光强度变化,检测这些布拉格反射光和参照光之间的干涉强度的调制的控制部;向所述第二保偏光纤的正交的两个偏振轴及所述第三保偏光纤的正交的两个偏振轴双方,入射所述测定光的入射部;和配置于所述第三保偏光纤,使来自所述传感器中的正交的两个偏振轴的布拉格反射光的光路长度恒定的光路长度调整部;所述入射部被配置于所述第一保偏光纤、或所述第二保偏光纤与所述第三保偏光纤双方。

著录项

  • 公开/公告号CN101680781B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社藤仓;

    申请/专利号CN200980000285.6

  • 发明设计人 大道浩儿;坂元明;平船俊一郎;

    申请日2009-03-02

  • 分类号G01D5/353(20060101);G01B11/16(20060101);G01K11/12(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人雒运朴;李伟

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-11-23

    授权

    授权

  • 2010-05-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D 5/353 申请日:20090302

    实质审查的生效

  • 2010-03-24

    公开

    公开

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