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表面疏水化膜、表面疏水化膜形成材料、布线层、半导体装置及其制造方法

摘要

根据本发明,能够得到漏电量少、且EM(电迁移)耐性和TDDB(经时介电击穿)耐性高的布线层,由此能够提供耗电量小、可靠性高的半导体装置的制造技术。本发明的表面疏水化膜是与绝缘膜接触的表面疏水化膜,其在接触时具有比绝缘膜更高的疏水性,并且其相反侧表面还与布线接触并包含选自由硫原子、磷原子和氮原子组成的组中的至少一种原子。

著录项

  • 公开/公告号CN101647106B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-10-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号CN200780052178.9

  • 发明设计人 今田忠纮;中田义弘;

    申请日2007-03-15

  • 分类号

  • 代理机构隆天国际知识产权代理有限公司;

  • 代理人菅兴成

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-10-05

    授权

    授权

  • 2010-04-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/312 申请日:20070315

    实质审查的生效

  • 2010-02-10

    公开

    公开

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