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薄膜晶体管之化学气相沉积制作流程及其预沉积层构造

摘要

本发明系有关于一种薄膜电晶体制作流程及其预沉积层构造,尤指一种薄膜电晶体之化学气相沉积制作流程及其预沉积层构造;其主要系于将基板传送至机台之载入腔室,进行抽真空及加热之后,先对制程腔室承载台进行一预沉积之步骤,再进行后续的薄膜电晶体之化学气相沉积;预沉积层可包含有氮化硅与非晶硅之多层沉积,可有效防止腔室中清洗所残留之氟、氯及掺杂物等影响薄膜电晶体之电气特性者。

著录项

  • 公开/公告号CN101572272B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深超光电(深圳)有限公司;

    申请/专利号CN200810027829.5

  • 发明设计人 王志达;

    申请日2008-04-30

  • 分类号

  • 代理机构深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人何青瓦

  • 地址 518109 广东省深圳市宝安区龙华镇民清路伍屋工业区东富龙民清宿舍1楼

  • 入库时间 2022-08-23 09:07:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-10-26

    授权

    授权

  • 2009-12-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-11-04

    公开

    公开

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