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一种用于在工件上形成结构材料层的方法

摘要

一种步进器在形成集成电路的过程中与沉积材料层的硬件组合,因此执行沉积、构图和清洗,而无需将晶片暴露于工具之间的传送,并且将三个工具的功能组合在一个复合工具中。通过施加穿过步进器的掩膜的UV光来去除图案限定材料,从而消除现有技术方法的烘焙和显影步骤。类似地,UV的整片曝光消除现有技术方法的清洗步骤。

著录项

  • 公开/公告号CN101313250B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国际商业机器公司;

    申请/专利号CN200680043778.4

  • 发明设计人 M·P·丘德齐克;J·F·小谢泊德;

    申请日2006-11-07

  • 分类号

  • 代理机构北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华

  • 地址 美国纽约

  • 入库时间 2022-08-23 09:07:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-22

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G03F 7/16 授权公告日:20110629 终止日期:20161107 申请日:20061107

    专利权的终止

  • 2011-06-29

    授权

    授权

  • 2011-06-29

    授权

    授权

  • 2009-01-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-01-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-11-26

    公开

    公开

  • 2008-11-26

    公开

    公开

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