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测量集成电路芯片间传输的数据信号的信号特性的方法和系统

摘要

在集成电路中接收的数据信号被耦合到接收器以及片上数据采集系统,该系统响应于测量请求,取数据信号的测量采样。使测量请求与产生捕捉信号和计数器复位信号的异步采样时钟信号同步。计数器对测量请求之间的采样时钟周期数进行测量。在收到测量请求时,捕捉信号触发作为捕捉数据的、计数器中的预设周期数以及测量采样在寄存器中的存储。计数器被同步复位,捕捉数据被发送到离片存储器。离片存储器存储任意数量的捕捉数据,且对于片上数据采集来说片上面积大大减小。离片分析被用于对于捕捉数据构建有效时基,以便进行信号分析。

著录项

  • 公开/公告号CN101207591B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-05-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国际商业机器公司;

    申请/专利号CN200710169413.2

  • 发明设计人 J·D·绍布;F·H·根巴拉;

    申请日2007-11-13

  • 分类号

  • 代理机构北京市中咨律师事务所;

  • 代理人于静

  • 地址 美国纽约

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-05-11

    授权

    授权

  • 2008-08-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-25

    公开

    公开

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