首页> 中国专利> 一种采用板带轧制中卷径测量装置测量卷径并控制卷取张力的方法

一种采用板带轧制中卷径测量装置测量卷径并控制卷取张力的方法

摘要

本发明为一种板带轧制中卷径测量装置及卷取张力的方法,包括PLC、ET200M远程I/O和激光测距仪,激光测距仪通过双绞线分别与PLC和ET200M远程I/O相连,卷取张力控制方法包括:步骤一:开始,并输入测距仪卷筒中心的距离L

著录项

  • 公开/公告号CN101362165B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-04-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东北大学;

    申请/专利号CN200810013463.6

  • 申请日2008-09-28

  • 分类号

  • 代理机构沈阳东大专利代理有限公司;

  • 代理人梁焱

  • 地址 110004 辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-11-28

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):B21C 51/00 授权公告日:20110427 终止日期:20110928 申请日:20080928

    专利权的终止

  • 2011-04-27

    授权

    授权

  • 2009-04-08

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-02-11

    公开

    公开

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