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机译:卷取机的卷径测量装置
公开/公告号SU781551A1
专利类型
公开/公告日1980-11-23
原文格式PDF
申请/专利权人 ARKUSHIN VASILIJ PSU;
申请/专利号SU19792708634
发明设计人 ARKUSHIN VASILIJ PSU;
申请日1979-01-08
分类号G01B7/12;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 15:35:26
机译: 线圈直径的测量装置,线圈厚度的测量装置和硬币直径和厚度的测量装置
机译: 通过测量零件的周长依次在零件加工过程中测量零件直径的设备。
机译: 一种用于快速和准确地定心和夹紧圆柱形和圆锥形物体(例如,口径或内径的光滑或带螺纹的口径)的方法和设备,用于通过以下方法精确测量外径,芯径和齿腹直径著名的二维扫描测量机