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一种剪切型框架结构损伤识别方法

摘要

本发明提出了一种剪切型框架结构损伤识别方法。首先,测试结构的动态响应,获取结构在完好状态和损伤状态的一阶振型斜率,计算出损伤造成的初始一阶振型斜率改变。然后,建立结构的数值模型,分析结构的各阶模态参数,利用模态参数计算一阶振型斜率对损伤的敏感系数。最后,结合敏感性分析结果,对结构初始一阶振型斜率改变进行修正,由修正后的一阶振型斜率改变识别损伤位置和损伤程度。即修正后一阶振型斜率改变大于零的层为损伤层,修正后一阶振型斜率改变的大小反映了该层的损伤程度。该方法通过一个三层的剪切型框架模型实验得到了验证。通过本发明,能够仅仅利用结构一阶振型斜率来识别损伤,具有较强的实用性。

著录项

  • 公开/公告号CN101122583B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-12-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN200710053157.0

  • 申请日2007-09-06

  • 分类号G01N3/00(20060101);G06F17/00(20060101);G01N19/08(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人曹葆青

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞瑜路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-12-29

    授权

    授权

  • 2008-04-09

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-02-13

    公开

    公开

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