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一种基于Sagnac干涉仪的保偏光纤拍长测试方法及测试装置

摘要

一种保偏光纤拍长测试方法及装置,根据一种由光纤耦合器和待测保偏光纤组成的混合光纤Sagnac干涉仪的透射谱的光谱调制特性,基于透射光谱的极值点特征,建立保偏光纤拍长测试的数值模型,对使用光谱测试装置获得的透射光谱的相邻极值点间的波长差进行测试,实现拍长的测试。对待测保偏光纤长度参数进行优化,建立获取光纤最佳测试长度的数学模型,在此长度下进行光纤的高精度拍长测试。本发明提供的保偏光纤拍长测试方法原理简单,在最佳测试长度下进行的拍长测试,精度可达到0.01mm。测试装置采用全光纤结构,成本低,适应性强,抗干扰能力强,对待测光纤的拍长没有限制,测试方法和装置适用于各种范围的保偏光纤的拍长测试,装置结构简单,操作方便。

著录项

  • 公开/公告号CN101592551B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN200910085278.2

  • 申请日2009-06-05

  • 分类号

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人成金玉

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-30

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 11/02 授权公告日:20110112 终止日期:20130605 申请日:20090605

    专利权的终止

  • 2011-01-12

    授权

    授权

  • 2010-01-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-12-02

    公开

    公开

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