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基于孔径合成技术的三维高分辨目标散射系数测量方法

摘要

本发明提出了一种基于孔径合成技术的三维高分辨目标散射系数测量方法,该方法通过控制天线在二维空间中精确地运动合成大型二维天线阵列,并结合信号处理中的脉冲压缩技术获得目标散射系数的三维高分辨率分布,从而实现了对目标散射系数的三维高分辨率测量。本发明克服了现有的基于计算电磁学的目标散射系数计算方法计算量大、存在近似误差、难以适用与复杂目标及宽带信号的缺点,以及现有的微波暗室目标散射系数测量方法分辨率低,无法对大型目标测量的缺点。本发明可用于目标散射特性研究及隐身材料/飞行器设计等领域。

著录项

  • 公开/公告号CN101509973B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-02-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN200910058731.0

  • 发明设计人 张晓玲;师君;杨建宇;

    申请日2009-03-30

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610054 四川省成都市建设北路二段四号

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-02-09

    授权

    授权

  • 2009-10-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-08-19

    公开

    公开

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