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用于窄间隙隔离区的自对准沟槽填充

摘要

使用自对准沟槽填充来隔离高密度集成电路中的装置。于装置之间的衬底中形成深、窄沟槽隔离区。所述沟槽区包含两个沟槽部分。用沉积电介质填充定位于第二沟槽部分上的第一沟槽部分。用生长电介质填充所述第二沟槽部分。通过生长介电材料来填充所述下部沟槽部分实现了介电材料在所述下部部分内的均匀分布。通过沉积介电材料来填充所述上部沟槽部分实现了材料在所述上部部分中的均匀分布,同时(例如)还防止所述电介质侵入装置沟道区中。可通过在蚀刻形成于所述装置的所述衬底上的一个或一个以上层之后或作为所述蚀刻的一部分蚀刻所述衬底以形成所述沟槽区来制造装置。这可确保在沟槽隔离区之间的装置的栅极与沟道区的对准。

著录项

  • 公开/公告号CN101341596B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 桑迪士克股份有限公司;

    申请/专利号CN200680043701.7

  • 发明设计人 杰克·H·元;

    申请日2006-10-10

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人刘国伟

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 27/115 授权公告日:20101208 终止日期:20181010 申请日:20061010

    专利权的终止

  • 2016-07-20

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L27/115 变更前: 变更后: 申请日:20061010

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2016-07-20

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 27/115 变更前: 变更后: 申请日:20061010

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2013-02-20

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L27/115 变更前: 变更后: 申请日:20061010

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2013-02-20

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 27/115 变更前: 变更后: 申请日:20061010

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2012-05-02

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L27/115 变更前: 变更后: 登记生效日:20120322 申请日:20061010

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-05-02

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 27/115 变更前: 变更后: 登记生效日:20120322 申请日:20061010

    专利申请权、专利权的转移

  • 2010-12-08

    授权

    授权

  • 2010-12-08

    授权

    授权

  • 2009-02-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-02-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-01-07

    公开

    公开

  • 2009-01-07

    公开

    公开

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