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利用模拟信号进行装置中扫描链测试的系统与方法

摘要

本发明公开了利用模拟信号进行装置中扫描链测试的方法与系统。至少一个实施例描述了利用模拟信号进行装置中扫描链测试的方法,该方法包括:从测试模块传送数字输入信号至信号分解器,该信号分解器用于将该数字输入信号划分成与每个数字输入信号对应的位;传送所述位至数字至模拟转换器,该数字至模拟转换器用于产生模拟输入信号;传送该模拟输入信号至该受测试装置中的模拟至数字转换器,以获得与每个所述数字输入信号对应的位;传送所述位至该受测试装置中的扫描链作为输入;以及利用所述位通过所述扫描链测试该受测试装置。本发明所述方法使得在给定装置中执行扫描链测试所需的硬件数量大大减少,同时仍保持同样水平的测试容量。

著录项

  • 公开/公告号CN101201389B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-11-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 威盛电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200810003111.2

  • 发明设计人 余大伟;

    申请日2008-01-10

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人钱大勇

  • 地址 中国台湾台北县

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-11-24

    授权

    授权

  • 2008-08-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-18

    公开

    公开

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