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半导体工业中用于三维测量和检测的机器视觉系统

摘要

优选实施方式的系统(10)包括提供稳定平台和振动隔离的结构子系统(20)、当移动物体移进取景区中时捕获该移动物体的图像的照相机子系统(30)、照亮移动物体的照明子系统(50)、以及选择性地启动照明子系统(50)以允许在不同条件下观察复杂物体的反射能力的控制器。系统(10)特别设计成照亮并捕获移动物体的图像,例如在制造设备中的封装电子部件的连接端子(例如,导线、球栅和焊盘)。然而,系统(10)可用于照亮并捕获任何适当的移动或不移动的物体的图像。

著录项

  • 公开/公告号CN101356534B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-09-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 克希瑞克斯公司;

    申请/专利号CN200680042118.4

  • 发明设计人 戴维森·道格拉斯;乔·普汉姆;

    申请日2006-11-13

  • 分类号

  • 代理机构北京安信方达知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈怡

  • 地址 美国密歇根州

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-09-08

    授权

    授权

  • 2009-03-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-01-28

    公开

    公开

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