法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-02-11
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/66 授权公告日:20100714 终止日期:20131219 申请日:20081219
专利权的终止
2010-07-14
授权
授权
2009-09-16
实质审查的生效
实质审查的生效
2009-07-22
公开
公开
机译: 断路器测试电路,其中高电流路径中的一对常闭触点使高恢复电压源短路,而另一对常闭触点在高电压源上形成低阻抗并联电路,直到两对触点均断开
机译: 减少高功率晶体管的数量的高应力测试电路
机译: 半导体集成电路的应力测试电路及使用该应力测试电路的应力测试方法