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一种光器件回波损耗测量方法

摘要

一种光器件回波损耗测量方法,包括:步骤1:取一三端口光纤环形器,先在三端口光纤环形器的第二端口接激光光源,在第三端口接标准光功率计,测量其第二端口到第三端口的器件光功率插入损耗;步骤2:再在环形器的第一端口接一激光光源,在第二端口接被测光器件,在第三端口接标准光功率计,测量由被测光器件反射出来的光功率;步骤3:测量光纤环形器第二端口与被测光器件之间结点S的光功率损耗;步骤4:计算出被测光器件的回波损耗。

著录项

  • 公开/公告号CN101329198B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量科学研究院;

    申请/专利号CN200710117618.6

  • 申请日2007-06-20

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汤保平

  • 地址 100013 北京市北三环东路18号中国计量科学研究院光学所

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-08-13

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 1/00 授权公告日:20100602 终止日期:20130620 申请日:20070620

    专利权的终止

  • 2010-06-02

    授权

    授权

  • 2009-02-18

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-12-24

    公开

    公开

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