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一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置

摘要

一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置,属于纳米材料性能原位检测领域。该发明设计通过压电陶瓷拉伸单元、微悬臂梁力学检测系统以及电学测量系统,对单根纳米线以及其它的一维纳米材料在透射电镜中实现原位拉伸,并在拉伸过程中实现可以利用透射电镜的成像系统,原位的获得纳米尺度甚至原子尺度上的变形信息,而且还可以实现弹性,塑性和断裂的力学性能定量测量,同时也可以对一维纳米材料进行电学性能测量,实现在拉伸过程中的电荷输运性能的研究。本发明结构简单,便于操作,应用范围广,具有直观性和定量检测的特性,便于解释和发现纳米材料优异的力学/电学等综合性能。

著录项

  • 公开/公告号CN101109687B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN200710119316.2

  • 发明设计人 韩晓东;郑坤;张泽;

    申请日2007-07-20

  • 分类号G01N13/10(20060101);G01N3/00(20060101);G01N27/00(20060101);

  • 代理机构11203 北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘萍

  • 地址 100022 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-09-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 13/10 授权公告日:20100602 终止日期:20130720 申请日:20070720

    专利权的终止

  • 2010-06-02

    授权

    授权

  • 2008-03-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-23

    公开

    公开

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