用于减少老化期间的温度差异的系统和方法

摘要

用于减少老化测试期间的温度差异的系统和方法。在一种实施方式中，测量待测试集成电路所消耗的功率。测量与该集成电路相关联的环境温度。通过调整该集成电路的体偏置电压，实现该集成电路的理想结温。通过控制各个集成电路的温度，能够减少老化测试期间的温度差异。