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X射线探测器和控制X射线探测器的技术

摘要

本发明涉及X射线探测器和控制X射线探测器的技术。提供了一种用在用于测量由待研究样品衍射的X射线束的X射线分析系统中的X射线探测器。X射线探测器包括:至少两个彼此铰接连接的X射线探测器模块;驱动机构,配置成将所述至少两个铰接连接的X射线模块定位在样品周围;控制单元,配置成控制驱动机构以相对于彼此移动所述至少两个探测器模块,使得所述至少两个探测器模块沿着具有取决于探测器和样品之间的选定距离的曲率的预先计算的曲线布置在样品周围。还提供了一种包括上述X射线探测器的X射线分析系统和一种控制X射线探测器的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN109211953B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023.10.17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社理学;

    申请/专利号CN201810676716.1

  • 申请日2018.06.27

  • 分类号G01N23/20008(2018.01);

  • 代理机构北京聿宏知识产权代理有限公司 11372;北京聿宏知识产权代理有限公司 11372;

  • 代理人吴大建;陈伟

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-11-27 17:39:07

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