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新一代X射线探测器在射线实时成像检测中的应用

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本文介绍非晶硅(a-Si)平板探测器的技术特性,及其取代常用的图像增强器在工业射线实时成像检测中的应用--焊缝和铸件检验.实验结果证明:选用适当型号的a-Si平板探测器,可获得优于图像增强器的像质计(IQI)灵敏度和空间分辨率.这是工业射线直接数字成像检测技术实用化的又一新突破.

著录项

来源
《2005年全国射线检测技术及加速器检测设备和应用技术交流会》|2005年|37-42|共6页
会议地点辽宁丹东
作者
李衍;
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作者单位

中国物理学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TP274.51;
关键词
非晶硅; 平板探测器; 图像增强器; 射线实时成像; 射线直接数字成像; IQI灵敏度; 空间分辨率;

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