全光纤型光波粒二象性测量装置

摘要

本发明涉及一种测量光波粒二象性的装置，实现对光波粒二象性的验证和观察。提出了一种结构简单、易于构建、抗干扰性强、易于观察测量结果的光波粒二象性的观测装置。该装置由单光子源、光环型器、X型光分路/合路器依次连接构成，另外再配以两个单光子探测计数器。其物理基础是：测量粒子性时，利用了光子经X型光分路/合路器时的路径随机选择特性，突出显示经典粒子运动轨道、轨迹的特征；测量波动性时，利用了Sagnac干涉仪，光子在X型光分路/合路器再次相遇时的叠加特性，突出显示经典波的干涉特征。