首页> 中国专利> 被动综合孔径光子成像方法和系统

被动综合孔径光子成像方法和系统

摘要

本发明提出了一种新型的被动综合孔径光子成像方法和系统,可以实现工作在微波、毫米波和太赫兹波段的高分辨率实时成像探测的目的,属于干涉式成像遥感、高空间分辨率军事侦察技术领域。在本发明中,不同于传统的被动综合孔径成像的两两天线相关的组合运算和离散Fourier变换的方法重构目标的图像,视场辐射信号被接收和降频后,通过电光幅度调制将相位信息加载到光波上,并结合冗余间隔校正(RSC)实现高精度相位补偿技术,通过光纤传输形成阵列,最后运用光综合孔径技术通过光学系统直接将视场图像实时的恢复出来。

著录项

  • 公开/公告号CN100593734C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2010-03-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN200710098793.5

  • 发明设计人 江月松;何云涛;李小路;

    申请日2007-04-27

  • 分类号G01S13/90(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路37号北京航空航天大学

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-07-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01S 13/90 授权公告日:20100310 终止日期:20110427 申请日:20070427

    专利权的终止

  • 2010-03-10

    授权

    授权

  • 2007-11-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-09-19

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号