退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
公开/公告号CN100578204C
专利类型发明授权
公开/公告日2010-01-06
原文格式PDF
申请/专利权人 北京中盾安民分析技术有限公司;公安部第一研究所;
申请/专利号CN200510084364.3
发明设计人 董国平;黄校垣;吴建义;金川;
申请日2005-07-15
分类号G01N23/203(20060101);G01T1/00(20060101);
代理机构11282 北京中海智圣知识产权代理有限公司;
代理人曾永珠
地址 102200 北京市昌平科技园区火炬街2号
入库时间 2022-08-23 09:03:54
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2010-01-06
授权
2007-08-15
实质审查的生效
2006-01-04
公开
机译: 高能X射线检查系统,采用扇形光束和组合背散射探测器
机译: 用于两个X射线探测器的G形射线计算机断层扫描(CT)图像采集设备和CT扫描成像系统
机译: 用于计算机断层扫描成像系统的X射线探测器,在两个指定位置之间双向传递热量,以保持通道段附近的探测单元的等温状态
机译:用双平板探测器直接测量和校正MegaVoLTAGE和千伏散射X射线的正交千伏影像系统
机译:用于康普顿背散射成像的飞点X射线系统
机译:X射线PulSAR XTE J1855-026的ROSSI X射线定时探测器的观察结果:一种可能的新型超级系统
机译:一种从边缘测量值估计数字X射线探测器点响应函数的方法
机译:用于astro-E2 X射线光谱仪探测器系统的重新设计高T(c)电流引线的数值模拟和实验验证。
机译:位置敏感和能量耗散锗探测器系统的特性和首次实验结果,该系统用于带有高电荷离子的精密X射线光谱
机译:一种用于X射线,EUV和可见光波长区域的通用高分辨率成像探测器系统