公开/公告号CN100585422C
专利类型发明授权
公开/公告日2010-01-27
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申请/专利权人 株式会社爱德万测试;
申请/专利号CN200580016215.1
申请日2005-05-23
分类号G01R31/319(20060101);G01R31/3183(20060101);G06F11/26(20060101);G06F17/50(20060101);
代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;
代理人杨生平;杨红梅
地址 日本东京都
入库时间 2022-08-23 09:03:50
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-07-08
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/319 授权公告日:20100127 终止日期:20140523 申请日:20050523
专利权的终止
2010-01-27
授权
授权
2007-09-05
实质审查的生效
实质审查的生效
2007-07-11
公开
公开
机译: 仿真器,包括仿真器的数据处理系统以及用于测试系统的仿真方法
机译: 诊断测试系统,用于打开诊断测试系统的门,用于操作用于诊断测试系统的注射器驱动器和用于操作阀驱动机构,用于操作门打开系统的方法,用于诊断测试系统,用于操作注射器驱动器的方法,用于诊断测试系统,用于操作阀驱动机构,用于执行测试,用于管理具有移动设备的诊断测试系统以及管理用于诊断测试的诊断测试系统,超声超声焊极阵列,仪器子集系统和与平坦反应容器一起使用的光学组件。
机译: 环路仿真和测试系统中的硬件,包括相控阵天线仿真系统,可为输入被测设备(DUT)的输入提供动态范围和到达信号的仿真,包括相控阵信号处理系统以及相关方法