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一种基于光寻址电位传感器检测GPC3的方法

摘要

一种基于光寻址电位传感器检测GPC3的方法:将LAPS芯片、光源驱动电路、信号放大电路、和LabVIEW平台组成了LAPS实时测试系统。设计合成了AuNPs/PEI‑rGO复合材料;将AuNPs/PEI‑rGO和GPC3‑Apt修饰在LAPS芯片形成敏感单元。在敏感单元上滴加GPC3标准溶液,形成LAPS的测试基片;在外加偏置电压作用下,LAPS测试基片上GPC3与GPC3‑Apt的特异性结合导致敏感单元表面的电势的改变,I‑V曲线产生相应的偏移;该偏移量与GPC3浓度在0.1‑100μg/mL表现出良好的线性关系,实现了对GPC3的检测。

著录项

  • 公开/公告号CN111693571B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023.03.03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 桂林电子科技大学;

    申请/专利号CN202010578793.0

  • 发明设计人 李桂银;周治德;赵乐;陈敏;

    申请日2020.06.23

  • 分类号G01N27/00;G01N23/2251;G01N33/68;

  • 代理机构桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司;

  • 代理人周雯

  • 地址 541004 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号

  • 入库时间 2023-03-15 00:58:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-03

    授权

    发明专利权授予

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