一种基于多块FPGA进行IC scan chain电路测试的方法

摘要

本发明涉及一种基于多块FPGA进行IC scan chain电路测试的方法，采用级联扩容的思想，解决单个FPGA作为SCAN CHAIN pattern的存储实体时存储资源不足的问题，通过自定义的FPGA间的通信握手方式，下一级FPGA可以知道上一级FPGA已完成测试，需要启动本级FPGA工作，并在本级FPGA测试完毕后，通知再下一级FPGA开始工作，本发明采用串联链工作原理，实现了庞大的SCAN CHAIN测试向量测试。