摘要
第一章 绪论
1.1 研究背景和研究意义
1.2 国内外研究现状
1.3 本文工作及篇章安排
第二章 软错误机理及容错方法
2.1 软错误产生机理
2.2 基于SRAM的FPGA容错技术
2.2.1 基于制造工艺的技术
2.2.2 三模冗余TMR技术
2.2.3 ECC纠错技术
2.2.4 擦洗Scrubbing技术
2.3 FPGA产业界容错设计
2.3.1 Xilinx FPGA容错方法介绍
2.3.2 Altera FPGA容错方法介绍
2.4 本章小结
第三章 FPGA单粒子翻转评估技术
3.1 FPGA可靠性评估指标
3.2 FPGA可靠性评估方法
3.2.1 现场辐射实验
3.2.2 模型分析方法
3.2.3 故障注入方法
3.3 本章小结
第四章 基于OR1200的TMR容错设计及测试平台
4.1 OR1200处理器介绍
4.2 OR1200处理器结构
4.2.1 处理器基本结构
4.3 针对Ctrl模块的TMR设计
4.3.1 OR1200处理器源代码分析
4.3.2 针对Ctrl模块TMR设计
4.4 基于软件仿真的SEU注入测试
4.4.1 SEU注入测试原理
4.4.2 SEU注入测试方案
4.4.3 SEU注入测试结果
4.5 本章小结
第五章 基于FPGA的SEU测试平台
5.1 DPR实现原理
5.2 SEU注入工具开发
5.3 测试平台的搭建
5.4 基于FPGA的SEU可靠性测试
5.4.1 ALU设计介绍
5.4.2 错误传播时间
5.4.3 硬件测试平台搭建
5.4.4 测试结果及分析
5.5 基于Cisco CMTS系统的FPGA容错设计及测试平台
5.5.1 Cisco CMTS系统
5.5.2 Cobalt 4 FPGA容错设计
5.5.3 Titan FPGA容错设计
5.5.4 基于CMTS测试平台搭建
5.6 本章小结
第六章 总结与展望
6.1 本文工作总结
6.2 未来展望
参考文献
致谢
附录
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