基于边缘格雷码和线移的结构光3D测量方法

摘要

基于边缘格雷码和线移的结构光3D测量方法，光学三维测量技术是获取物体三维信息最有效的手段之一，它属于非接触测量，不需接触被测物表面和高采样密度是其主要优点，光学三维测量技术中，结构光编码法以其准确度高、测量速度快、成本低等优点在三维重构、工业测量等领域有着广泛的应用前景，本发明基于边缘格雷码和线移的结构光3D测量方法，采用亚像素定位技术提取的各幅强度二值化前图像中的条纹边缘和中心，将边缘和中心上点作为图像采样点，然后按其在强度二值化后图像中的灰度值0或1求取格雷码，利用格雷码码值找到强度图像和编码图案中边缘的对应关系。本发明应用于三维测量技术中。